SJT 10373-1993 电视发射机 差转机可靠性试验方法
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ID： |
5E6DBF7173C04ED3AB1540A08189FAF8 |
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文件大小(MB)： |
0.31 |
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页数： |
17 |
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文件格式： |
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日期： |
2013-7-16 |
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SJ,中华人民共和国电子行业标准,sJ/T 10373一93,电视发射机、差转机,可靠性试验方法,1993-07-21发布1993-.12-01实施,中华人民共和国电子工业部发布,中华人民共和国电子行业标准,电视发射机、差转机可靠性试验方法,Reliability experiment method for SJ/T 10373-93,TV transmitter and transposer,主题内容与适用范围,本 标 准 规定了电视发射机、差转机进行实验室可靠性试验和现场可靠性试验的方法,本标 准 适 用于失效规律服从指数分布的电视发射机、差转机(以下简称设备)的可靠性鉴,定试验和验收试验。也可作为研制样机和试生产设备制订可靠性增长试验、验证试验和测定试,验等试验方法的依据,本 标 准 不适用于有并机系统的设备,引用标准,GB 3187,GB 4086. 2,GB5080.7,GB 6277,GB 7396,GB 2064,可靠性基本名词术语及定义,统计分布数值表V分布,设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试,验方案,电视发射机测量方法,电视差转机测量方法,电子设备可靠性验证试验(统计试验方案),术语及符号,本 标 准 没有规定的术语应符合GB 3187的规定,3.1 术语,3.1.1 失效failure,设 备 丧 失规定的功能,3.1.2 相关失效relevant failure,设 备 本 身的、预期可能出现的失效,3.1.3 非相关失效non-relevant failure,非设 备 本 身的、预期不可能出现的失效,3.1.4 相关试验时间time of relevant test,设 备 在 试验中完成规定功能的时间，该时间不包括设备预热，维修和停机的时间,中华人民共和国电子工业部1993-07-21批准1993-12-01实施,一1一,s7/T 10373- 93,3.1.5 非相关试验时间time of non-relevant test,设 备 在 试验中不工作的时间，即设备预热、维修和停机时间以及失效发生、寻找、修复和验,证等各个时间之和,3-2 符号,二— 平 均无故障时间(MTBF)的真值;,m 平 均无故障时间的点估计值(观测值),二。 — 规定的可接受的平均无故障时间;,仙 — 规定的不可接收的平均无故障时间;,.L — 平均无故障时间的单侧下限估计值;,me — 平均无故障时间预计值,a— 生 产方风险;,9- 使 用方风险,刀. — 平均无故障时间的鉴别比(Dm=mo/二，),n- 受 试设备台数;,r— 试 验中发生的累计相关失效数;,rc— 试 验方案允许发生的相关失效数;,T— 试 验累积的相关试验时间;,‘— 定 时截尾规定的试验时间;,C_ 置 信度;,X" (f )— 自由度为f的Xz分布的c分位数;,M X— 定时截尾试验的二L的评估系数.,试验分类,根 据 设 备研制、生产的不同阶段和不同的试验目的，本标准将可靠性试验分为鉴定试验和,验收试验,4-1 可靠性鉴定试验,用 于 判 断生产厂是否有能力生产出在规定条件下符合规定的可靠性指标的设备而进行的,可靠性试验.适用于设计定型、生产定型及设计、工艺有重大更改后的鉴定.,4-2 可靠性验收试验,为 了 验证 定型后批量生产的设备能否在规定条件下满足规定的可靠性指标而进行的可靠,性试验。试验结果应作为验收设备的依据之一,试验总要求,5.1 受试设备必须是经检验合格的产品,5.2 试验前应对受试设备根据失效判据中规定的项目按照GB 6277和GB 7396中规定的测,量方法逐台进行测量，并记录下所测得的数据,53 试验开始后.应按设备使用和维护要求进行规定的调整和维护(现场试验时应征得使用,方同意)，不得进行规定外的调整或维护，每进行一次规定外的调整或维护应记作一次失效,54 对受试设备在试验中发生的失效应作详细记录,一 2 一,SJ /T 1 03 73 - 93,5.5 试验应具备符合要求的试验设施、技安保护设施和严格的试验程序.未经使用方或生产,方技术主管同意不得更改试验程序、试验方法和相关要求,5.6 试验中如发生立即作出拒收判决的失效，应立即停止试验，在采取经验证有效的纠正措,施后方可重新开始试验,5.7 试验结束后，试验部门应提供试验报告,6 实验室可靠性试验,6.1 受试设备样品数量,6.1.1 可靠性鉴定试验所需样品数量除合同另有规定外，本标准推荐的可靠性鉴定试验所需,样品数量见表1.,表 1,批金最佳样品致最大样品数,1- 3 全部全部,4^-16 3 9,17^-52 5 15,53^-96 8 19,97--200 13 21,200以上20 22,6.1.2 可靠性验收试验所需样品数量不受表1的限制，可根据批量的多少、设备体积的大小、,允许的试验时间及试验设施等因素由产品标准规定。全半导体化的设备，单台试验时间不得低,于150h.,62 试验方案,6.2.1 本标准推荐采用GB 5080. 7中“定时截尾试验方案”的第5:7号试验方案，其数据如,下:,a=200o,T二1. 46mo,P=20%,rc -<2,Dm= 3,6.2.2 对于生产过程质量控制严格.产品质谧稳定的设备，可选用高风险率定时截尾试验方,案。本标准推荐采用SJ 2064中“高风险率定时截尾试验方案”的第4:12号试验方案，其数据,如下:,a= 30 0 0 P = 3 0 0 o Dm = 3,T' 二 0. 37 m 0 r c = 0,6.2.3 当只需作合……
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